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UD422 復合式三坐標測量機
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測量儀器 >> 測量儀器 >> 三座標測量機.三次元測量機
產(chǎn)品介紹  
將現(xiàn)代的光學測頭、機械式測頭及激光掃描測頭集成于同一臺三坐標測量機上,可完成幾乎幾何測量任務。
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特點

將現(xiàn)代的光學測頭、機械式測頭及激光掃描測頭集成于同一臺三坐標測量機上,綜合各種測頭的技術特點,可完成幾乎幾何測量任務。光學測頭主要是通過高精度CCD數(shù)字攝像頭,將被測物體放大后,利用先進的圖象信息處理技術,可編程控制光學照明技術,實現(xiàn)對工件的自動掃描尋邊,表面點自動聚焦采集,自動測圓、自動對比。在對微小尺寸、薄片及刀口輪廓、易變形或不能接觸的工件,工件表面圖形、字符等方面的測量具有其優(yōu)越性。激光掃描測頭主要利用高精度的數(shù)控系統(tǒng),實現(xiàn)在測量時對工件表面的自動跟蹤,用于對任意曲面的掃描測量。

性能參數(shù)

測量范圍: 400mm×200mm×200mm

允許工件重量:

玻璃工作臺20kg

示值誤差: E(2.5+L/200)μm

探測誤差: P2.8μm

探測系統(tǒng): Renishaw接觸式測頭系統(tǒng)

CCD非接觸式測頭系統(tǒng)

激光掃描探測系統(tǒng)

長度測量系統(tǒng): Renishaw精密光柵尺

分辨率: 0.1μm/0.5μm

物鏡: 高品質(zhì)測量物鏡

光源系統(tǒng): 玻璃工作臺

高精度同軸平行底光源

頂光源(可選環(huán)形光源)

工作壓力: (0.4-0.6)MPa

使用環(huán)境: 溫度(20±2)℃

濕度55%-65%

 UD422
 
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