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WKL-702 顆粒圖像分析儀
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物性分析 >> 物性分析 >> 微粒度測定儀
產(chǎn)品介紹  
適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、粉塵、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和分析。
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適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、粉塵、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和分析。

 

工作原理

WKL-702顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和粒度測量的顆粒分析系統(tǒng),由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來傳輸給電腦,通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進(jìn)行處理分析,具有直觀、形象、準(zhǔn)確和測試范圍寬等特點(diǎn)??梢杂^察顆粒形貌,也可得到粒度分布等分析結(jié)果。

 

技術(shù)參數(shù)

測量范圍:13000微米

最大光學(xué)放大倍數(shù):1600

最大分辨率:0.1微米/像素

準(zhǔn)確性誤差:< ±3%(國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì))

重復(fù)性偏差:< ±3%(國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì))

數(shù)據(jù)輸出:周長分布、面積分布、長徑分布、短徑分布、周長相當(dāng)徑分布、面積相當(dāng)徑分布、Feret徑分布、長短徑比、中間(D50)、有效粒徑(D10)、限定粒徑(D60D30、D97)、個數(shù)長度平均徑、個數(shù)面積平均徑、個數(shù)體積平均徑、長度面積平均徑、長度體積平均徑、面積體積平均徑、不均勻系數(shù)、曲率系數(shù)。

配置參數(shù)(配置1國產(chǎn)顯微鏡)(配置2進(jìn)口顯微鏡)

三目生物顯微鏡:平場目鏡:10×、16×

               消色差物鏡:4×、10×、40×、100× (油)

               總放大倍數(shù):40×-1600×

攝像機(jī):300萬像素數(shù)字CCD(標(biāo)準(zhǔn)C接口鏡頭)

 

軟件功能及報告輸出格式

1、可以對圖像進(jìn)行多項處理::影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、定向放大、對比度、亮度調(diào)節(jié)等幾十種功能。

2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量。

3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù),以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖

 

 

 WKL-702
 
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